产品分类
SPC 统计过程管理
收集生产设备、量测设备或其他与制造相关的生产数据,根据已设置的规则,判定数据是否超出要求的规格,当超出规格时通过MES,EAP等外部系统采取措施,消除异常,恢复过程的稳定从而实现提高和控制质量的目的。...
DAS 缺陷分析系统
通过多种BINMap分析功能追踪并管理良率相关的品质异常,根据分析Particle/SFQR/NanoMap,ESFQRProfile等多种WaferMap对主要品质因素进行效率分析,是提高生产效率及稳定产出的解决方案。...
YMS 良率管理系统
结合大数据和AI的应用,精确影响良率的根源,提高缺陷管控、良率分析的效率和准确性;通过既往数据建立分析模型,预防相似问题的产生,提高良率。...
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